NOVI MIKROSKOP NA ATOMSKO SILO
datum: 10.04.2019
Mikroskop na atomsko silo za kvantitativno analizo mehanskih in triboloških lastnosti površin in mejnih filmov
Nova pridobitev laboratorija je mikroskop na atomsko silo (AFM) MFP 3D Origin, Asylum Research, Oxford Instruments. Ena izmed glavnih prednosti novega mikroskopa je možnost kvantitativnega vrednotenja mehanskih in triboloških lastnosti površin ter mejnih filmov, kot so elastičnost, dušenje, togost, trenje, disipacija energije, itd. Prav te lastnosti mejnih filmov imajo bistven pomen pri novejših triboloških študijah in omogočajo nov razvoj zelenih tehnologij mazanja, ki uporabljajo nove aditive in tvorijo filme, ki so običajno šibkejši, zato je kvantitativna primerjava med njimi ključnega pomena.
Nov AFM omogoča tudi možnost in-situ analize v tekočem mediju/olju, kar omogoča pridobitev neposrednih dokazov za številne pojave in tribološke mehanizme mejnih površinskih filmov. Prav tako omogoča kontrolirano gretje vzorca (preko 250 °C), kar je pomembno pri študijah adhezije ter študijah adsorpcije/desorpcije aditivov iz maziv.